2008年4月18日 星期五
先進探針卡克服晶圓針測障礙
FormFactor是先進晶圓探針卡的領導製造商，其解決方案包括晶圓針測、高頻率與預燒測試所使用的探針卡。在晶圓針測領域內，探針卡可用來判定晶片是否能操作；高頻率探針卡可用來判定晶片是否能在預先設計的速度下真正運作；預燒探針卡測試則用在真實世界狀況下，不同溫度時晶片的效能，藉以判定晶片是否在過度使用時會操作失敗。
《圖一 FormFacotr總裁Joe Bronson》
由於消費性電子市場快速地改變，新的半導體設計在被淘汰之前可能僅有6到12 個月的壽命。對於晶片製造商來說，新產品的快速上市與大量生產對於獲利來說是絕對必要。然而，在IC製程中所發生的問題可能會導致低良率裝置的產生。若這些不良的裝置沒有在晶圓被切割與封裝之前測試到，則晶片製造商就浪費了先前所花費的所有時間與金錢。
FormFactor的先進探針卡解決方案藉由篩檢晶圓上IC的品質，確定只有符合規格的裝置才能隨後封裝，協助晶片製造商克服這些障礙，並加速他們的投資報酬率。
關鍵字 : 無線通訊收發器
