2008年7月11日 星期五
2008安捷倫電子量測論壇盛大登場
安捷倫科技(Agilent)連續八年所舉辦的安捷倫電子量測論壇,今年在2008年7月8、10日分別在台北、新竹盛大舉行,會中邀請安捷倫的合作夥伴Allion、Microchip、Rambus、Xillinx及Anite與安捷倫的專家共同發表二十五個專題演講及多達二十二個最新技術實機展示。而針對今年論壇的重點,安捷倫針對目前最受注目的Digital及Wireless二大主題為核心,與產業分享最新的量測趨勢,並在會中展示最新的技術解決方案。
在Digital方面,安捷倫著重於影響數位設計和測試的未來發展。將深入探討包含DigiRF、MIPI相容性測試、超高速USB3.0、FPGA設計測試和除錯、以及低速串列匯流排除錯等議題。
關鍵字 : LTE,USB3.0,FPGA,WiMAX,MIPI,HSPA,無線通訊量測,Agilent,安捷倫,Dave Rishavy,Jim Curran,通用設備,無線通訊測試