2008年6月25日 星期三
惠瑞捷推出Inovys半導體晶片除錯解決方案
有鑑於市場對更高效率之除錯方法的需求不斷增加，半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 特別推出Inovys半導體除錯解決方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系統單晶片 (SoC) 元件的量產時間。惠瑞捷新推出的解決方案結合了Inovys革命性的FaultInsyte軟體與惠瑞捷彈性、可擴充的V93000 SoC測試系統，組成一套整合的解決方案，能以最有效率的方式，將複雜系統單晶片元件上的電子故障 (Electrical Failure) 問題與實體的瑕疵點相互連結對應，以縮短偵測與診斷出故障問題所需的時間。如此一來即可協助採用90奈米或更小製程的製造商大幅縮短除錯、試產、以及量產的時間。
關鍵字 : 半導體除錯,系統單晶片,惠瑞捷,半導體製造與測試
