2008年5月22日 星期四
KEITHLEY新推自動特性分析套件(ACS)測試系統
量測方案廠商美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments）宣佈為其Automated Characterization Suite（ACS）自動特性分析套件軟體，加入選擇性的晶圓級可靠性（WLR）測試工具，可支援各種半導體可靠度與使用期預測等應用。4.0版延續ACS軟體現有單部位與多部位並行測試功能（single- and multi-site parallel test capabilities）；加入資料庫功能，以及多個軟體工具與可選購的新可靠性測試模組（RTM）與ACS 資料分析功能。新增的可靠性測試與資料分析 工具讓ACS-based測試系統在使用期預測的速度上，比傳統的晶圓級可靠度測試方法快5倍。
關鍵字 : 晶圓,電晶體,積體電路,電容器,Keithley,儀器設備
