泰瑞達推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統

泰瑞達推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統(摘自易立達高科技網)

   泰瑞達(Teradyne)於今日宣布，推出最新的D750Ex LCD驅動IC測試系統。D750Ex為專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。此系統為奇景光電(Himax)所採用，用以測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC。
   D750Ex系統提供了一個每腳端(Pin)高密度資源的架構，可支援整體程式超過97%的平行測試效率。D750Ex 也同時具備嵌入式DSP與中央式DSP 的架構，可增加處理效能。此系統的體積很小，與必須同時使用大型電腦櫃和測試頭的競爭對手系統相較，所需的空間減少了 50-85%。
   D750Ex採用一萬用介面埠(Universal Slot)的架構，可根據設備測試需求將多種類型設備放置於同一系統中。D750Ex也提供了記憶體測試選項(Memory Test Option, MTO)，無須額外的埠即可在一次完成測試行動驅動IC。在競爭對手的系統上，行動設備必須於兩個平台上測試，一個平台測試LCD，另一個平台測試記憶體。D750Ex適用於各通道的「任一腳端」架構，大幅簡化了探針卡的設計，也使得多點測試的開發環境更為彈性。

關鍵字 : 泰瑞達,奇景光電,蔡志忠,George Rose,測試系統與研發工具,半導體製造與測試